青材讲坛第1期:原位X射线反射研究硅电极锂化过程


报告标题

原位X射线反射研究硅电极锂化过程

报告摘要

X射线反射(XRR)是一种对表面和界面敏感的技术,在研究薄膜材料中有重要应用。由于硬X射线可以穿透>3mm厚的电解液,所以XRR技术可以实现不用仪器直接接触样品的非破坏性测量。在电化学反应中,通过XRR可以原位测量电池内部的电极和电极表面的固体电解质界面膜(Solid electrolyte interphase, SEI)。报告的第一部分简单介绍XRR的原理及XRR在一些文献中的应用;第二部分将介绍用XRR技术研究锂电池硅电极的反应机理。

硅(Si)作为锂离子电池的一种新型负极材料,容量是石墨电极的十倍以上。为了更好地理解硅电极的锂化机理,和硅电极表面 SEI膜的性质,我们设计组装了能够用于同步辐射XRR原位测试的硅电极电池,测试了100-Si单晶硅片的第一个锂化周期。硅片锂化时,在表面会生成硅化锂(LixSi)和SEI膜,测量XRR并进行数据拟合能够得到LixSi和SEI膜的厚度、电子密度和粗糙度。通过分析硅化锂和SEI膜在锂化过程中的演化,我们提出了硅电极的结构变化模型 ,并得出在我们的实验条件下(恒流,25μA/cm2),晶体硅的锂化是受到反应速率限制的逐层反应过程。

这项工作提出了硅电极锂化的详细机理模型,实现了对SEI膜的非破坏性原位测量;并证实了用XRR技术进行电池电极材料原位研究的可行性。

报告嘉宾

曹春田,斯坦福材料科学与工程博士在读。在斯坦福大学直线加速中心用同步辐射X射线反射和表面X射线散射技术研究锂电池电极材料和固体电解质界面膜。愿与各科研爱好者合作交流。

报告时间

2018年1月25日10:00—10:40

回放视频

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青材讲坛是材料人学术委员会组织的线上学术交流活动,主题为材料、化学、工程相关学术、技术研讨。每期邀请一位嘉宾介绍自己的工作,并提供讨论环节。

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