氢脆（HE）通过氢与晶格缺陷的相互作用破坏金属构件的结构完整性，是氢能源基础设施部署面临的最持久技术障碍。尽管已提出氢增强局部塑性变形（HELP）、弱键理论（HEDE）、氢增强应变诱导空位（HESIV）以及HELP+HEDE复合模型等机制，但这些理论仍存在重大争议。
许多研究者将HE现象归因于氢抑制位错的交滑移，即“氢促滑移共面性”理论。该理论主要是以“氢增大滑移带宽度和高度”作为实验证据。然而，滑移带是位错演化在样品表面的凸起，而样品表面的位错演化与芯部是不同步的。此外，在比较氢对滑移带特征的影响时，未考虑晶体取向的影响，降低了“氢促滑移共面性”这一结论的科学严谨性。
近期，中山大学的研究团队从晶体取向效应和表-体位错行为差异两个关键角度出发，对金属氢脆中被广泛引用的“氢促滑移共面性”理论进行了再探讨。相关研究成果以“Revisiting hydrogen-enhanced slip planarity in Ni”为题发表在《Scripta Materialia》。研究团队首先基于晶体取向关联性的滑移带宽度统计分析表明，充氢对纯Ni表面滑移带宽度几乎没有影响；其次基于晶体取向关联性的位错集群行为研究表明，充氢促进了位错胞的演化速率，产生了尺寸显著更小的位错胞，位错胞的产生依赖于交滑移，因此可以认为氢反而是促进了纯Ni中的交滑移；最后综合对比研究了Ni-H和Ni-Cr体系的力学性能、断裂形式、位错组态以及应力松弛行为（位错激活体积），发现促进平面滑移和脆性断裂之间没有必然的联系。
图1 不同取向纯Ni晶粒在充氢前后的滑移带特征
图2 不同取向纯Ni晶粒在充氢前后的滑移带宽度统计
图3 充氢前后不同取向纯Ni晶粒的位错组态（应变0.16）[ref. 40]：(a) (b) [100]，(c) (d) [110]，(e) (f) [111]
图4 Ni, Ni-H, Ni-Cr的拉伸曲线
图5 Ni和Ni-Cr的位错组态（应变0.13）：(a) (b) [100]，(c) (d) [110]，(e) (f) [111]
表1 Cr与H对Ni的层错能、位错密度、位错激活体积、滑移平面性及断裂模式影响的比较
| H | Decreased SFE | Brittle fracture |
| Increased dislocation density | ||
| Decreased activation volume | ||
| Non-promoted slip planarity | ||
| Cr | Decreased SFE | Ductile fracture |
| Increased dislocation density | ||
| Decreased activation volume | ||
| Promoted Slip planarity |
